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Scios DualBeam 电子显微镜
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院
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Scios DualBeam 电子显微镜
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
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赛默飞ThermoFisher|Scios 2 DualBeam双束电镜|Scios 2 DualBeam|TFE000048|TFE000048
一、产品介绍Thermo Scientifc ™ Scios ™ 2 DualBeam ™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料)提供出色的样品制备和三维表征性能
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 全自动采集
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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赛默飞(原FEI)Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 高质量采集
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 磁性材料分析
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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